2013년 11월 05일 천범익 상무님 세미나 안내

Author
comsys
Date
2014-09-04 16:49
Views
730
일시 : 2013년 11월 05일(화) 16:00~18:00
장소 : 공학원 246C
제목 : DFT and Test Issues in Design House, IDM, Foundry and SATS Companies

초록 :
시스템 반도체의 세계 시장 규모는 반도체 시장 규모보다 약 4배 정도 큰 거대 시장이다. 시스템 반도체는 궁극적으로 다양한 기능을 내장한 SOC Device로 발전하고 있다. 이러한 SOC 반도체의 제품 개발에서부터 시장 출시까지 짧은 기간동안 높은 품질과 성능을 보장할 수 있는 SOC Device를 성공적으로 개발하기 위해서는, 기능을 세분화하여 설계하고 통합하며 이를 짧은 개발 기간 내에 설계, 검증기법 및 개발협력 체계가 필요하며 높은 품질을 보증할 수 있는 테스트 방법이 요구된다. 이러한 반도체 시장에서, 컬컴, 브로드컴와 같은 팹리스 회사들은 설계에만 집중하여 경쟁력을 극대화하고 있으며, TSMC, 글로벌 파운드리와 같은 Foundry 업체는 반도체 제조 경쟁력만을 갖추고자 한다. 그에 반해 인텔, 삼성과 같은 IDM 회사들은 설계 및 공정을 전부 수직 계열화하여 시너지 효과를 극대화하려고 한다. 본 강의에서는, 이러한 시스템 반도체 환경에서, 특히 SOC 개발자들이 높은 테스트 품질을 위해 설계에 고려하여 할 사항 및 전체 개발과정에서 문제점등에 대해 논의하고자 한다. 특히 팹리스 회사의 경우 설계, Design Implementation, 공정, 조립, 테스트의 각 단계가 서로 다른 회사에서 진행되는 관계로 발생할 수 있는 문제점에 대해 중점적으로 언급하고자 한다.

강연자 : 천범익 상무 / 아이테스트