- DFR (Design For Robustness) for In-Memory Computing System
(인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. National Research Foundation of Korea (한국연구재단) - Artificial intelligence-based tester technology for reducing test costs
(테스트 비용 절감을 위한 인공지능 기반의 테스터 기술)
Jul. 1, 2023 – Dec. 31, 2025, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Implementation of the Basic Core Technology for SoC Tester capable of High-Quality Parallel Testing
(SoC 반도체의 고품질 병렬 테스트 장비의 원천 기술 개발)
Apr. 1, 2022 – Dec. 31, 2024. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Research on system of test equipment for high speed memory(CK 8GHz, DQ 16Gbps)
(초고속 메모리-시스템(CK 8GHz, DQ 16Gbps) 장비 구조 개발)
Apr. 1, 2022 – Dec. 31, 2024. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Logic BIST(Built-In Self Test) for Automotive SoC
(차량용 SoC를 위한 고신뢰성 자가 테스트 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - DFT-based Test Method for Memory Peripheral Circuit
(메모리 반도체 peri 영역을 위한 DFT 기반 테스트 방법)
Mar. 1, 2023 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - Through-silicon via repair structure for minimizing signal delay
(신호 지연을 최소화하는 TSV 수리 구조)
Mar. 1, 2023 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - Layout-Aware Scan Chain Diagnosis for Yield Ramp-Up
(수율 향상을 위한 Layout-Aware Scan Chain Diagnosis)
Sep. 16, 2020 – Aug. 31, 2024. Samsung Electronics (삼성전자) - Test Technology for Next-Generation Memory
(차세대 메모리 테스트 기술 개발)
Dec. 1, 2020 – Nov. 30, 2023. SK Hynix (SK 하이닉스) - Fusion Human Resource Education Center for Automotive System IC
(자동차향 시스템반도체 융합 인력육성 센터)
Apr. 9, 2021 – Dec. 31, 2026. National Research Foundation of Korea (한국연구재단)
