- Logic BIST(Built-In Self Test) for Automotive SoC
(차량용 SoC를 위한 고신뢰성 자가 테스트 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - DFR (Design For Robustness) for In-Memory Computing System
(인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. National Research Foundation of Korea (한국연구재단) - Test Technology for Next-Generation Memory
(차세대 메모리 테스트 기술 개발)
Dec. 1, 2020 – Nov. 30, 2023. SK Hynix (SK 하이닉스) - Layout-Aware Scan Chain Diagnosis for Yield Ramp-Up
(수율 향상을 위한 Layout-Aware Scan Chain Diagnosis)
Sep. 16, 2020 – Sep. 15, 2023. Samsung Electronics (삼성전자) - Test & Repair Circuits for TSV(Through Silicon Via) in HBM
(DRAM 기반 메모리 계층 구조 설계 및 응용)
Sep. 1, 2020 – Aug. 31, 2023. Samsung Electronics (삼성전자) - Design for Test of Intelligent Processors
(지능형 반도체를 위한 테스트 회로 설계 기술)
May. 1, 2020 – Dec. 31, 2022. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Development of The Identification Data Processing Technology for On-Site Police Officers
(실종아동등 신원확인을 위한 복합인지기술개발사업)
Jul. 23, 2018 – Jul. 22, 2023. National Research Foundation of Korea (한국연구재단)
