- Design-for-testability for In-Memory Computing in AI Semiconductor
(메모리와 로직 반도체가 연동된 지능형 반도체 테스트 용이화 설계 기술)
Apr. 1, 2025 – Dec. 31, 2027, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Plug & Play (P&P) Chiplet Integration Research Center
(플러그앤플레이(P&P) 칩렛 인티그레이션 연구센터)
Aug. 1, 2024 – Apr. 30, 2030, National Research Foundation of Korea (한국연구재단) - Artificial intelligence-based tester technology for reducing test costs
(테스트 비용 절감을 위한 인공지능 기반의 테스터 기술)
Jul. 1, 2023 – Dec. 31, 2025, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Development of AI-Based Predictive Maintenance Technology for High Reliability Test
(고신뢰성 확보를 위한 AI 기반 예지보전 기술개발)
Sep. 1, 2024 – Dec. 31, 2028, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Research on Methodologies for Screening Defects in NAND Peripheral Circuits
(NAND Peri Defect Screen 방법론 연구)
Mar. 1, 2025 – Feb. 28, 2026, Samsung Electronics (삼성전자) - Standard-Based High-Reliability Test Architecture for Heterogeneous Die
(이종 다이 적층 구조를 위한 표준 기반 고신뢰성 테스트 구조 개발)
Jul. 1, 2025 – Jun. 30, 2026, Samsung Electronics (삼성전자) - Development of Pattern Generation and Core Technologies for High-Speed Test Equipment
(High-Speed 테스트 장치를 위한 패턴 생성 및 기반기술 개발)
Apr. 1, 2024 – Mar. 31, 2026. SK Hynix (SK 하이닉스) - Fusion Human Resource Education Center for Automotive System IC
(자동차향 시스템반도체 융합 인력육성 센터)
Apr. 9, 2021 – Dec. 31, 2026. National Research Foundation of Korea (한국연구재단)
