- Test and Tester Technologies for Yield Enhancement of TSV based 3D ICs
(TSV 기반 3D IC의 수율 향상을 위한 테스트 및 테스터 기술)
Jun. 1, 2015 – May 30, 2020. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Design Technology Development of Ultra-Low Voltage Operating Circuit and IP for Smart Sensor SoC
(스마트 센서 SoC용 초저전압 회로 및 IP 설계 기술 개발)
Jun. 1, 2015 – May 30, 2020. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Research on Built Off Self Test Techniques for Test Pin Reduction of Next Generation Semiconductor Devices
(차세대 반도체 테스트 핀 감소를 위한 built off self test (BOST) 기술 연구)
Oct. 1, 2016 – Sep. 30, 2021. Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - PIM Core Technology and System Development for Data-intensive Applications
(데이터 중심 어플리케이션을 위한 PIM 코어 기술 및 시스템 개발)
Apr. 1, 2017 – Mar. 31, 2020. Samsung Electronics (삼성전자㈜) - Development of DFT Architecture for Yield Improvement
(수율 향상을 위한 DFT 구조 설계)
Jul. 1, 2018 – Jun. 30, 2020. Samsung Electronics (삼성전자㈜) - Statistical DRAM fault Modeling and Generating Technology Development
(Statistical DRAM fault 모델링과 이에 기반한 fault 생성 기술 개발)
Aug. 1, 2018 – Jul. 31, 2020. SK Hynix (SK 하이닉스㈜) - Development of the identification data processing technology for on-site police officers
(실종아동등 신원확인을 위한 복합인지기술개발사업)
Jul. 23, 2018 – Jul. 22, 2023. National Research Foundation of Korea (한국연구재단) - DFR (Design For Robustness) for in-memory computing system
(인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술)
Mar. 1, 2019 – Feb. 28, 2022. National Research Foundation of Korea (한국연구재단)
