• “매니코어 Lifetime 신뢰성 연구동향” 
    IDEC News Letter, vol. 170 pp 4-7, 2011년 8월
  • “Deep Packet Inspection(DPI)구현” 
    IDEC News Letter, vol. 148 pp 14-17, 2009년 10월
  • “SoC 테스트를 위한 테스트 데이터 압축방법” 
    IDEC News Letter, vol. 133 pp 4-7, 2008년 7월
  • “경제성을 고려한 DFT의 선택 방법” 
    IDEC News Letter, vol. 112 pp 6-8, 2006년 10월
  • “NoC(Networks on Chip)” 
    IDEC News Letter, vol. 92 pp 8-11,  2005년 2월
  • “네트워크 기반 바이오프로세서의 설계 및 구현” 
    SIPAC News Letter,  vol.4  No.5  pp10-11,  2004년 9월
  • “보드 및 SoC IP간의 연결선 테스트를 위한 알고리즘” 
    SIPAC News Letter,  vol.4  No.2  pp14-15,  2004년 3월
  • “DSP 설계기술 동향” 
    IDEC News Letter, vol. 66 pp 26-27,  2002년 11월
  • “테스트가 용이한 SoC 설계기법”
    SIPAC News Letter,  vol.2  No.2  pp16-17,  2002년 3월
  • “SOC 테스트 기술동향”
    전자공학회지,  제29권 제1호 pp 45-58, 2002년 1월
  • “SOC 설계와 테스트”
    SIPAC News Letter, vol.1  No.2  pp 20-21,  2002년 1월
  • “SOC 설계와 IP 활용”
    SIPAC News Letter, vol.2  No.1  pp 16-17,  2001년 10월
  • “SOC 환경에서의 BIST”
    IDEC News Letter,  vol.53  No.2  pp 18-22,  2001년 6월
  • “인터넷 여행”
    전기학회지, 제48권 제3호 pp 44-45, 1999년 3월
  • “VLSI 테스팅의 기술동향”
    전자공학회지, 제25권 제11호 pp 1095-1106, 1998년 11월
  • “연세대 전기공학교육”
    전기학회지, 제47권 제2호 pp 5-9, 1998년 2월
  • “소장회원이 바라본 21세기에 대한 제언”
    전기학회지, 제46권 제12호 pp 33-35, 1997년 12월
  • “내장된 자체 검사 기법의 기술동향”
    전자공학회지, 제22권 제12호 pp 1455-1465, 1995년 12월
  • “경로지연고장에 대한 테스트 생성과 고장 시뮬레이션”
    전기학회지, 제44권 제1호 pp 5-9, 1995년 1월