2015년도 IEEE TSM 논문게재 - 차재원외
Author
comsys
Date
2015-10-15 14:30
Views
1081
2015년도 IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 8월 28권 3호 pp.399-407에 논문게재 되었습니다.
제목 : "A New Accelerated Endurance Test for Terabit NAND Flash Memory using Interference Effect"
저자 : Jaewon Cha, Wooheon Kang, Junsub Chung, Kunwoo Park, and Sungho Kang
축하합니다
제목 : "A New Accelerated Endurance Test for Terabit NAND Flash Memory using Interference Effect"
저자 : Jaewon Cha, Wooheon Kang, Junsub Chung, Kunwoo Park, and Sungho Kang
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