2015년도 IEEE TSM 논문게재 - 차재원외

Author
comsys
Date
2015-10-15 14:30
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535
2015년도 IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 8월 28권 3호 pp.399-407에 논문게재 되었습니다.


제목 : "A New Accelerated Endurance Test for Terabit NAND Flash Memory using Interference Effect"


저자 : Jaewon Cha, Wooheon Kang, Junsub Chung, Kunwoo Park, and Sungho Kang


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