2015년도 IEEE TSM 논문게재예정 - 차재원외

Author
comsys
Date
2015-05-26 17:49
Views
601
2015년도 IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 에 논문게재예정 되었습니다.


제목 : "A New Accelerated Endurance Test for Terabit NAND Flash Memory using Interference Effect"


저자 : Jaewon Cha, Wooheon Kang, Junsub Chung, Kunwoo Park, and Sungho Kang


축하합니다