2013년 11월 26일 정성수 교수님 세미나 안내

Author
comsys
Date
2014-09-04 16:50
Views
739
일시 : 2013년 11월 26일(화) 16:00~18:00
장소 : 제3공학관 C716호
제목 : JTAG 테스트 표준의 진화와 이를 이용한 SiP 3D IC DFT의 응용 사례

초록 :
최근 개발된 TSV 기술을 이용한 SiP 3D IC는 테스트 조건의 새로운 패러다임을 안내하게 되었다. 많은 산업계의 전문가들과 학계의 연구자들이 동일하게 동의하는 것은 SiP 3D IC 개발에 가장 도전적인 어려움은 테스트 문제라는 것이다. 이런 문제점들을 해결하기 위해 IEEE와 다른 표준 제정기관에서 새 종류의 표준들을 발표하기 시작했다.
어떤 표준을 적용해 SiP 소자개발에 사용해야 할까를 가름하는 것은 쉬운 일이 아니다. 왜냐하면 SiP 소자기술과 테스트 표준 모두 산업계에서는 새로운 기술이기 때문이다.
이번 세미나는 SiP 소자 테스트에 관계가 되는 표준들을 계보에 따라 현재까지의 진화 과정을 설명하고, 이를 분류하여 SiP 소자의 DFT 개발, 테스트, 진단, 그리고 재가공에 적합한 표준들을 보여주려 한다. 마지막으로 최근 SiP 소자의 DFT 개발과 테스트의 응용 사례들을 토론하려고 한다.

강연자 : 정성수 교수 / 한양대학교
초청자 : 전기전자공학과 교수 강성호