김학송 연구원 IEEE 논문 게재 예정

Author
comsys
Date
2014-09-04 16:18
Views
694
2014년 1월 28일 김학송 연구원의 논문

"A Novel Massively Parallel Testing Method using Multi-root for High Reliability"이

IEEE Transactions on Reliability에 게재 예정 되었습니다.

축하드립니다.