2022년 1학기 전기 전자 종합 설계 주제 안내

Author
comsys
Date
2022-02-23 17:40
Views
135
컴퓨터 시스템 및 고신뢰성 SOC 연구실에서

2022년도 1학기 진행될 종합 설계 연구 테마 관련하여 안내 드립니다.

Automotive IC를 위한 Logic Built-in Self Test(LBIST) 회로 설계

회로의 고장 검출을 위해 test를 진행할 수 있는 내장 회로 설계

- In-system test를 진행하기 위해서 적은 비용으로 자체적으로 테스트를 진행할 수 있는 회로가 필요
- Linear Feedback Shift Register(LFSR)과 phase shifter를 활용한 test pattern 생성
- Scan grouping을 활용하여 test coverage 및 power 소모에 대한 성능 향상



그림. LBIST 회로 예시