- DFR (Design For Robustness) for In-Memory Computing System
(인-메모리 컴퓨팅의 로버스트니스 향상을 위한 반도체 설계 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. National Research Foundation of Korea (한국연구재단) - Artificial intelligence-based tester technology for reducing test costs
(테스트 비용 절감을 위한 인공지능 기반의 테스터 기술)
Jul. 1, 2023 – Dec. 31, 2025, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Development of AI-Based Predictive Maintenance Technology for High Reliability Test
(고신뢰성 확보를 위한 AI 기반 예지보전 기술개발)
Sep. 1, 2024 – Dec. 31, 2028, Ministry of Trade, Industry and Energy (산업통상자원부) - Logic BIST(Built-In Self Test) for Automotive SoC
(차량용 SoC를 위한 고신뢰성 자가 테스트 기술)
Mar. 1, 2022 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - DFT-based Test Method for Memory Peripheral Circuit
(메모리 반도체 peri 영역을 위한 DFT 기반 테스트 방법)
Mar. 1, 2023 – Feb. 28, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - Through-silicon via repair structure for minimizing signal delay
(신호 지연을 최소화하는 TSV 수리 구조)
Mar. 1, 2023 – Jun. 30, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - Layout-Aware Scan Chain Diagnosis for Yield Ramp-Up
(수율 향상을 위한 Layout-Aware Scan Chain Diagnosis)
Sep. 16, 2020 – Aug. 31, 2025. Samsung Electronics (삼성전자) - Development of Pattern Generation and Core Technologies for High-Speed Test Equipment
(High-Speed 테스트 장치를 위한 패턴 생성 및 기반기술 개발)
Apr. 1, 2024 – Mar. 31, 2026. SK Hynix (SK 하이닉스) - Fusion Human Resource Education Center for Automotive System IC
(자동차향 시스템반도체 융합 인력육성 센터)
Apr. 9, 2021 – Dec. 31, 2026. National Research Foundation of Korea (한국연구재단)
