2026년 2학기 전기전자 종합설계 주제 안내
Author
comsys
Date
2026-06-04 15:15
Views
58
컴퓨터시스템 및 고신뢰성 SOC 연구실에서
2026년도 2학기 진행될 종합설계 연구 주제 관련하여 안내드립니다.
고신뢰성 HBM을 위한 BIST 및 BIRA 회로 설계
연구배경
- 대용량 메모리 어레이에서 발생하는 결함을 외부 테스트 장비만으로 검출할 경우 테스트 시간과 비용이 크게 증가하므로, 칩 내부에서 결함을 신속하게 진단할 수 있는 BIST 기술이 요구됨
- HBM의 수율과 신뢰성을 향상시키기 위해서는 결함 검출뿐만 아니라, 여분의 행·열 자원을 활용하여 불량 셀을 효율적으로 복구하는 BIRA 기술이 필수적임
연구목표
- HBM 내부 메모리 셀 및 연결 구조에서 발생 가능한 주요 결함을 검출할 수 있는 고효율 BIST 회로를 설계
- 검출된 결함 정보를 기반으로 여분의 행·열 자원을 최적으로 할당하는 BIRA 알고리즘 및 하드웨어 구조를 개발
* 관심 있는 학생들은 강성호 교수님께 연락하여 면담 일정을 조율 및 예약하시기 바랍니다.
강성호 교수님 E-mail: shkang@yonsei.ac.kr
2026년도 2학기 진행될 종합설계 연구 주제 관련하여 안내드립니다.
고신뢰성 HBM을 위한 BIST 및 BIRA 회로 설계
연구배경
- 대용량 메모리 어레이에서 발생하는 결함을 외부 테스트 장비만으로 검출할 경우 테스트 시간과 비용이 크게 증가하므로, 칩 내부에서 결함을 신속하게 진단할 수 있는 BIST 기술이 요구됨
- HBM의 수율과 신뢰성을 향상시키기 위해서는 결함 검출뿐만 아니라, 여분의 행·열 자원을 활용하여 불량 셀을 효율적으로 복구하는 BIRA 기술이 필수적임
연구목표
- HBM 내부 메모리 셀 및 연결 구조에서 발생 가능한 주요 결함을 검출할 수 있는 고효율 BIST 회로를 설계
- 검출된 결함 정보를 기반으로 여분의 행·열 자원을 최적으로 할당하는 BIRA 알고리즘 및 하드웨어 구조를 개발
* 관심 있는 학생들은 강성호 교수님께 연락하여 면담 일정을 조율 및 예약하시기 바랍니다.
강성호 교수님 E-mail: shkang@yonsei.ac.kr