2025 Domestic Patent - Hayoung Lee, etc.
Author
comsys
Date
2025-07-03 10:19
Views
13
The following patent has been approved by the Korean Intellectual Property Office in May 2025.
Congratulations to the authors.
Title: 메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치
Authors: 강성호, 이하영
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Title: 메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치
Authors: 강성호, 이하영