2025 Domestic Patent - Hyeonchan Lim, etc.
Author
comsys
Date
2025-07-03 10:18
Views
11
The following patent has been approved by the Korean Intellectual Property Office in April 2025.
Congratulations to the authors.
Title: 스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치
Authors: 강성호, 임현찬
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Title: 스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치
Authors: 강성호, 임현찬