2025년 2학기 전기전자 종합설계 주제 안내
Author
comsys
Date
2025-06-27 14:38
Views
19
컴퓨터시스템 및 고신뢰성 SOC 연구실에서
2025년도 2학기 진행될 종합설계 연구 주제 관련하여 안내드립니다.
초고속 메모리 테스트를 위한 테스트 벡터 복원 하드웨어 설계

연구배경
-메모리 테스트를 위한 테스트 데이터 (테스트 벡터)생성 모듈은 메모리의 동작 속도로 동작해야 하지만,기술의 발달로 메모리의 속도가 크게 향상됨에 따라 새로운 형태의 고속 테스트 벡터 인가 모듈 개발 필요
연구목표
- 소프트웨어 기반으로 압축된 테스트 벡터를 간단한 동작으로 고속 복원할 수 있는 디코더회로 설계
- 디코딩 과정에서의 동작 속도를 초고속 메모리의 동작 속도에 맞출 수 있도록 딜레이 오버헤드 최적화
- 압축 알고리즘의 역과정을 하드웨어로 구현하는 단계에서 발생 가능한 문제 해결
* 관심 있는 학생들은 강성호 교수님께 연락하여 면담 일정을 조율 및 예약하시기 바랍니다.
강성호 교수님 E-mail: shkang@yonsei.ac.kr
2025년도 2학기 진행될 종합설계 연구 주제 관련하여 안내드립니다.
초고속 메모리 테스트를 위한 테스트 벡터 복원 하드웨어 설계

연구배경
-메모리 테스트를 위한 테스트 데이터 (테스트 벡터)생성 모듈은 메모리의 동작 속도로 동작해야 하지만,기술의 발달로 메모리의 속도가 크게 향상됨에 따라 새로운 형태의 고속 테스트 벡터 인가 모듈 개발 필요
연구목표
- 소프트웨어 기반으로 압축된 테스트 벡터를 간단한 동작으로 고속 복원할 수 있는 디코더회로 설계
- 디코딩 과정에서의 동작 속도를 초고속 메모리의 동작 속도에 맞출 수 있도록 딜레이 오버헤드 최적화
- 압축 알고리즘의 역과정을 하드웨어로 구현하는 단계에서 발생 가능한 문제 해결
* 관심 있는 학생들은 강성호 교수님께 연락하여 면담 일정을 조율 및 예약하시기 바랍니다.
강성호 교수님 E-mail: shkang@yonsei.ac.kr