21

"동적 전원 공급 전류를 이용한 효율적인 SRAM 테스트 기법"
윤도현, 김홍식, 강성호
전자공학회 논문지
37권 SD편 12호 pp.50-59, 2000년 12월

20

"멀티 드롭 멀티 보드 시스템을 위한 새로운 IEEE1149.1 경계 주사 구조"
배상민, 송동섭, 강성호
전기학회 논문지
49권 11호 pp.637-642, 2000년 11월

19

"순차 회로의 효율적인 지연 고장 검출을 위한 새로운 테스트 알고리듬 및 스캔 구조"
허경회, 강용석, 강성호
전자공학회 논문지
37권 SD편 11호 pp.989-998, 2000년 11월

18

"경로 지연 고장 테스팅을 위한 효율적인 부분 확장 주사 방법"
김원기, 김명균, 강성호, 한건희
정보처리학회 논문지
7권 10호 pp.3226-3235, 2000년 10월

17

"내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬"
허윤, 강성호
전자공학회 논문지
37권 6호 pp.488-500, 2000년 6월

16

"효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조"
김홍식, 윤도현, 강성호
전자공학회 논문지
36권 12호 pp.839-904, 1999년 12월

15

"SET기반 전자상거래의 보안위협요소 분석 및 대응 방안에 관한 연구"
김상균, 강성호
한국전자거래(CALS/EC)학회 논문지
4권 2호 pp.59-79, 1999년 9월

14

"스캔 환경에서 간접 유추 알고리즘을 이용한 경로 지연 고장 검사 입력 생성기"
허경회, 강용석, 강성호
전기학회 논문지
48권 9호 pp1161-1166, 1999년 9월

13

"순차 회로의 지연 고장 검출을 위한 새로운 스캔 설계"
김원기, 김명균, 강성호
정보처리학회 논문지
6권 6호 pp.1656-1666, 1999년 7월

12

"다중 주사 경로 회로 기판을 위한 내장된 자체 테스트 기법의 연구"
김현진, 신종철, 임용태, 강성호
전자공학회 논문지
36권 C편 2호 pp.14-25, 1999년 2월