81

"리스트 스케줄링을 통한 Coarse-Grained 재구성 구조의 맵핑 알고리즘 개발"
김현진, 홍혜정, 김홍식, 강성호
전자공학회 논문지
46권 SD편 6호 pp.508-514, 2009년 6월

80

"저전력 BIST를 위한 패턴 사상 기법에 관한 연구"
김유빈, 장재원, 손현욱, 강성호
전자공학회 논문지
46권 SD편 제5호 pp.411-420, 2009년 5월

79

"테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조"
양명훈, 김용준, 윤현준, 강성호
전자공학회 논문지
46권 SD편 제5호 pp.397-404, 2009년 5월

78

"고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법"
이주환, 임요섭, 김홍식, 강성호
전자공학회 논문지
46권 SD편 제3호 pp.32-40, 2009년 3월

77

"효율적인 LFSR 리시딩 기반의 테스트 압축 기법"
김홍식, 김현진, 안진호, 강성호
전자공학회 논문지
46권 SD편 제3호 pp.26-31, 2009년 3월

76

"테스트 시간 및 데이터 압축을 위한 스캔 적용 기법"
김용준, 강성호
전자공학회 논문지
45권 SD편 제10호 pp.988-993, 2008년 10월

75

"명령어 분석기를 이용한 고속 메모리 테스트를 위한 병렬 ALPG"
윤현준, 양명훈, 김용준, 박영규, 박재석, 강성호
전자공학회 논문지
45권 SD편 제9호 pp.873-880, 2008년 9월

74

"천이 수정을 통한 고 성능 테스트 데이터 압축 기법"
박재석, 양명훈, 김용준, 박영규, 윤현준, 강성호
전자공학회 논문지
45권 SD편 제9호 pp.897-904, 2008년 9월

73

"스캔입력 변형기법을 통한 새로운 저전력 스캔 BIST 구조"
손현욱, 김유빈, 강성호
전자공학회 논문지
45권 SD편 제6호 pp.43-48, 2008년 6월

72

"규칙적인 NoC 구조에서의 네트워크 지연 시간 최소화를 위한 어플리케이션 코어 매핑 방법 연구"
안진호, 김홍식, 김현진, 박영호, 강성호
전자공학회 논문지
45권 SD편 제4호 pp.117-123, 2008년 4월