31

"패턴 집단 생성 방식을 사용한 내장형 자체 테스트 기법"
강용석, 김현돈, 서일석, 강성호
전자공학회 논문지
39권 SD편 7호 pp.81-88, 2002년 7월

30

"내장된 자체 테스트 기법을 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론"
서일석, 강용석, 강성호
전자공학회 논문지
39권 SD편 7호 pp.74-80, 2002년 7월

29

"시스템 온 칩 테스트를 위한 효과적인 테스트 접근 구조"
송동섭, 배상민, 강성호
전자공학회 논문지
39권 SD편 5호 pp.54-64, 2002년 5월

28

"이중 포트 메모리를 위한 고장진단 알고리듬"
박한원, 강성호
전자공학회 논문지
39권 SD편 3호 pp.20-33, 2002년 3월

27

"고성능 32-bit DSP 코프로세서의 아키텍쳐 개발"
윤성철, 강성호
전자공학회 논문지
39권 SD편 2호 pp.72-81, 2002년 2월

26

"마이크로파이프라인 회로를 위한 지연 고장 테스트"
강용석, 허경회, 강성호
전자공학회 논문지
38권 SD편 8호 pp.592-604, 2001년 8월

25

"고집적 메모리를 위한 효율적인 고장 진단 알고리듬"
박한원, 강성호
전기학회 논문지
50권 4호 pp.192-200, 2001년 4월

24

"지연 고장 테스팅에 대한 고장 검출율 메트릭"
김명균, 강성호, 한창호, 민형복
전자공학회 논문지
38권 SD편 4호 pp.266-276, 2001년 4월

23

"독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법"
윤도현, 강성호, 민형복
전자공학회 논문지
38권 SD편 2호 pp.145-153, 2001년 2월

22

"경계스캔 구조를 사용한 시스템의 온라인 버스 모니터링"
송동섭, 배상민, 강성호
전기학회 논문지
49권 12호 pp.675-682, 2000년 12월