http://soc.yonsei.ac.kr/wordpress/wp-content/plugins/kboard/rss.php WordPress KBoard feed 연구배경 - 대용량 메모리 어레이에서 발생하는 결함을 외부 테스트 장비만으로 검출할 경우 테스트 시간과 비용이 크게 증가하므로, 칩 내부에서 결함을 신속하게 진단할 수 있는 BIST 기술이 요구됨 - HBM의 수율과 신뢰성을 향상시키기 위해서는 결함 검출뿐만 아니라, 여분의 행·열 자원을 활용하여 불량 셀을 효율적으로 복구하는 BIRA 기술이 필수적임 연구목표 - HBM 내부 메모리 셀 및 연결 구조에서 발생 가능한 주요 결함을 검출할 수 있는 고효율 BIST 회로를 설계 - 검출된 결함 정보를 기반으로 여분의 행·열 자원을 최적으로 할당하는 BIRA 알고리즘 및 하드웨어 구조를 개발 * 관심 있는 학생들은 강성호 교수님께 연락하여 면담 일정을 조율 및 예약하시기 바랍니다. 강성호 교수님 E-mail: shkang@yonsei.ac.kr]]> Thu, 04 Jun 2026 15:15:50 +0000 공지사항 Fri, 29 May 2026 17:19:44 +0000 논문게재 Fri, 29 May 2026 17:17:42 +0000 논문게재 Fri, 29 May 2026 17:16:53 +0000 논문게재 Fri, 29 May 2026 17:15:49 +0000 논문게재 스승의 날을 기념하여 강성호 교수님과 함께 산책을 진행하였습니다. 참여해주신 모든 분들 수고 많으셨습니다.]]> Tue, 26 May 2026 10:01:56 +0000 공지사항 Tue, 19 May 2026 09:46:29 +0000 논문게재 Thu, 30 Apr 2026 15:51:28 +0000 논문게재 Thu, 30 Apr 2026 15:49:36 +0000 논문게재 Thu, 30 Apr 2026 15:48:17 +0000 논문게재 Thu, 30 Apr 2026 15:40:47 +0000 논문게재 Wed, 29 Apr 2026 09:59:26 +0000 논문게재 Wed, 29 Apr 2026 09:57:54 +0000 논문게재 Fri, 17 Apr 2026 17:46:09 +0000 논문게재 Tue, 31 Mar 2026 17:21:53 +0000 논문게재 Tue, 31 Mar 2026 17:20:58 +0000 논문게재 Tue, 31 Mar 2026 17:18:45 +0000 논문게재 완주하신 모든 분들께 축하드립니다. 다들 수고하셨습니다.]]> Mon, 09 Mar 2026 10:22:13 +0000 공지사항 Thu, 05 Mar 2026 18:02:40 +0000 논문게재 Thu, 05 Mar 2026 17:59:54 +0000 논문게재