2019년 12월 30일 김용준 Staff Engineer 님 세미나 안내
Author
comsys
Date
2019-12-26 11:04
Views
758
2019년 12월 30일 본 연구실을 졸업하신 김용준 선배님의 세미나가 진행됩니다.
개최일시 : 2019년 12월 30일 월요일 11시 ~ 12시
개최장소 : 제3공학관 C616호
세미나 제목 : TestMAX: Next Generation Test Platform
발표초록 : The Synopsys TestMAX™ family of products offers innovative, next-level test and diagnosis capabilities for all digital, memory and analog portions of a semiconductor device. The Synopsys TestMAX family contains unique capabilities for automotive test and functional safety as well as technologies that unlock new levels of test bandwidth and efficiency by leveraging high-speed interfaces common on many designs.
강연자 성함&직함 / 소속 : Joon Kim(김용준), Staff Engineer, Design Group, Synopsys
초청자 : 전기전자공학과 교수 강성호
개최일시 : 2019년 12월 30일 월요일 11시 ~ 12시
개최장소 : 제3공학관 C616호
세미나 제목 : TestMAX: Next Generation Test Platform
발표초록 : The Synopsys TestMAX™ family of products offers innovative, next-level test and diagnosis capabilities for all digital, memory and analog portions of a semiconductor device. The Synopsys TestMAX family contains unique capabilities for automotive test and functional safety as well as technologies that unlock new levels of test bandwidth and efficiency by leveraging high-speed interfaces common on many designs.
강연자 성함&직함 / 소속 : Joon Kim(김용준), Staff Engineer, Design Group, Synopsys
초청자 : 전기전자공학과 교수 강성호