101

"필터를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 그를 위한 장치"
발명자 : 강성호, 임현열
출원번호 : 10-2020-0038781, 출원일자 : 2020.03.31
출원지정국 : 대한민국

100

"메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법"
발명자 : 강성호,이영광
출원번호 : 10-2020-0033346, 출원일자 : 2020.03.18
출원지정국 : 대한민국

99

"스캔 체인 내 다중 고장을 진단하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2020-0024801, 출원일자 : 2020.02.28
출원지정국 : 대한민국

98

"수리 가능 반도체 메모리 선별 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2019-0168592, 출원일자 : 2019.12.17
출원지정국 : 대한민국

97

"동적 고장 재배치에 따른 메모리 수리 솔루션 탐색 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2019-0071455, 출원일자 : 2019.06.17
출원지정국 : 대한민국

96

"침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로"
발명자 : 강성호, 이영우
출원번호 : 10-2019-0068762, 출원일자 : 2019.06.11
출원지정국 : 대한민국

95

"오류 정정 코드를 이용한 적층형 메모리 장치 및 그 수리 방법"
발명자 : 강성호, 한동현
출원번호 : 10-2019-0012161 , 출원일자 : 2019.01.30
출원지정국 : 대한민국

94

"드롭아웃이 적용된 다층 퍼셉트론 구조에서 연산코어의 오류 검출 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이동수
출원번호 : 10-2018-0121247, 출원일자 : 2018.10.11
출원지정국 : 대한민국

93

"메모리 테스트를 위한 명령어 기반의 보스트 장치"
발명자 : 강성호, 서성열
출원번호 : 10-2018-019993, 출원일자 : 2018.09.14
출원지정국 : 대한민국

92

"TSV 병렬 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이영우
출원번호 : 10-2018-0051603, 출원일자 : 2018.05.04
출원지정국 : 대한민국