119

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
출원번호 : 10-2021-0146108, 출원일자 : 2021.10.28
출원지정국 : 대한민국

118

"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
출원번호 : 10-2021-0143402, 출원일자 : 2021.10.26
출원지정국 : 대한민국

117

"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
출원번호 : 10-2021-0143401, 출원일자 : 2021.10.26
출원지정국 : 대한민국

116

"관통 전극의 리페어 방법, 이를 수행하는 리페어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2021-0119552, 출원일자 : 2021.09.08
출원지정국 : 대한민국

115

"TSV 테스트 장치를 포함하는 반도체 장치 및 이의 동작 방법"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2021-0117936, 출원일자 : 2021.09.03
출원지정국 : 대한민국

114

"BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 포스트 실리콘 디버깅 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2021-0091570, 출원일자 : 2021.07.13
출원지정국 : 대한민국

113

"스캔 체인의 자가 테스트를 위한 삽입 노드 결정 방법 및 장치"
발명자 : 강성호. 김경빈
출원번호 : 10-2021-0067002, 출원일자 : 2021.05.25
출원지정국 : 대한민국

112

"메모리 수리 솔루션 도출 방법 및 메모리 수리 솔루션 도출 장치 "
발명자 : 강성호,정민호
출원번호 : 10-2021-0050426, 출원일자 : 2021.04.19
출원지정국 : 대한민국

111

"극 저면적 오버헤드를 위한 결합 테스트 포인트 삽입 방법"
발명자 : 강성호,김경빈
출원번호 : 10-2021-0049564, 출원일자 : 2021.04.16
출원지정국 : 대한민국

110

"높은 해상도를 위한 재구성 가능한 진단 경로에 기초한 스캔 구조 "
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2021-0021468, 출원일자 : 2021.02.17
출원지정국 : 대한민국