111

"극 저면적 오버헤드를 위한 결합 테스트 포인트 삽입 방법"
발명자 : 강성호,김경빈
출원번호 : 10-2021-0049564, 출원일자 : 2021.04.16
출원지정국 : 대한민국

110

"높은 해상도를 위한 재구성 가능한 진단 경로에 기초한 스캔 구조 "
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2021-0021468, 출원일자 : 2021.02.17
출원지정국 : 대한민국

109

"테스트 포인트 삽입을 통하여 향상된 검출율을 가지는 고장 검출 방법, 고장 검출 장치 및 가중치 인가 회로"
발명자 : 강성호, 박종호
출원번호 : 10-2020-0178042, 출원일자 : 2020.12.18
출원지정국 : 대한민국

108

"X 필링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
출원번호 : 10-2020-0178043, 출원일자 : 2020.12.18
출원지정국 : 대한민국

107

"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
발명자 : 강성호, 김호경
출원번호 : 10-2020-0172033, 출원일자 : 2020.12.10
출원지정국 : 대한민국

106

"칩의 보안 회로"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2020-0162047, 출원일자 : 2020.11.27
출원지정국 : 대한민국

105

"수리 가능 반도체 메모리 선별 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2020-0159063, 출원일자 : 2020.11.24
출원지정국 : 대한민국

104

"스캔 체인 형성 방법 및 스캔 체인 형성 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
출원번호 : 10-2020-0150874, 출원일자 : 2020.11.12
출원지정국 : 대한민국

103

"스캔 셀 재배치 방법 및 스캔 셀 재배치 장치"
발명자 : 강성호, 임현열
출원번호 : 10-2020-0138121, 출원일자 : 2020.10.23
출원지정국 : 대한민국

102

"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
출원번호 : 10-2020-0138122, 출원일자 : 2020.10.23
출원지정국 : 대한민국