129

"반도체 테스트 장치 제조 방법"
발명자 : 강성호, 박성환
출원번호 : 10-2022-0114045, 출원일자 : 2022.09.08
출원지정국 : 대한민국

128

"고장 진단 가능한 스캔 장치 및 스캔 체인 고장 진단 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2021-0190872, 출원일자 : 2022.02.11
출원지정국 : 대한민국

127

"스캔 체인의 다중 고장 진단장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
출원번호 : 10-2021-0190872, 출원일자 : 2021.12.29
출원지정국 : 대한민국

126

"회로의 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
출원번호 : 10-2021-0190867, 출원일자 : 2021.12.29
출원지정국 : 대한민국

125

"스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
출원번호 : 10-2021-0189738, 출원일자 : 2021.12.28
출원지정국 : 대한민국

124

"3D 메모리 및 TSV 예비 자원을 이용한 3D 메모리 라우팅 방법"
발명자 : 강성호, 한동현
출원번호 : 10-2021-0189363, 출원일자 : 2021.12.28
출원지정국 : 대한민국

123

"다중 동일한 코어를 위한 하이브리드 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
출원번호 : 10-2021-0189271, 출원일자 : 2021.12.28
출원지정국 : 대한민국

122

"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2021-0189267, 출원일자 : 2021.12.28
출원지정국 : 대한민국

121

"스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치"
발명자 : 강성호, 임현찬
출원번호 : 10-2021-0178936, 출원일자 : 2021.12.14
출원지정국 : 대한민국

120

"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
출원번호 : 10-2021-0167453, 출원일자 : 2021.11.29
출원지정국 : 대한민국