141

"합성곱 신경망을 통한 메모리 고장 솔루션 탐색 방법"
발명자 : 강성호, 정민호
출원번호 : 10-2023-0093611, 출원일자 : 2023.07.19
출원지정국 : 대한민국

140

"메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2023-0086979, 출원일자 : 2023.07.05
출원지정국 : 대한민국

139

"비선형 메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2023-0083483, 출원일자 : 2023.06.28
출원지정국 : 대한민국

138

"스캔 체인 보안을 위한 회로 및 그 구동 방법"
발명자 : 강성호, 문영기
출원번호 : 10-2023-0025891, 출원일자 : 2023.02.27
출원지정국 : 대한민국

137

"비대칭 실리콘 관통 전극 연결 구조를 포함하는 3차원 집적 회로"
발명자 : 강성호, 한동현
출원번호 : 10-2023-0025009, 출원일자 : 2023.02.24
출원지정국 : 대한민국

136

"Pair-Grouping 스캔 체인 구조를 이용한 스캔 셀 다중 고장 진단 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 김성훈
출원번호 : 10-2023-0024305, 출원일자 : 2023.02.23
출원지정국 : 대한민국

135

"스캔 체인 보안 회로 및 그 구동 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2023-0023654, 출원일자 : 2023.02.22
출원지정국 : 대한민국

134

"기계 학습에 기반한 스캔 체인 진단방법 및 진단장치"
발명자 : 강성호, 윤효준
출원번호 : 10-2023-0005129, 출원일자 : 2023.01.13
출원지정국 :

133

"BOST 장치 및 이의 출력 데이터 저감 방법"
발명자 : 강성호, 이수령
출원번호 : 10-2022-0189559, 출원일자 : 2022.12.29
출원지정국 :

132

"AI 기반 수리 가능 반도체 메모리 선별 방법, 이를 수행하는 장치 및 컴퓨터 프로그램"
발명자 : 강성호, 신승호
출원번호 : 10-2022-0141150, 출원일자 : 2022.10.28
출원지정국 :