21

"모듈 단위 자가 검출 방식 기반의 캐리 선택 덧샘기의 에러 수정 방법 및 그 캐리 선택 덧샘기"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2007-0013601, 출원일자 : 2007.02.09
출원지정국 : 대한민국

20

"이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법"
발명자 : 강성호, 박영규, 양명훈, 김용준, 이대열
출원번호 : 10-2007-0013455, 출원일자 : 2007.02.09
출원지정국 : 대한민국

19

"하드웨어 오버헤드를 줄이기 위한 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김기철, 김인철
출원번호 : 10-2006-0070774, 출원일자 : 2006.07.27
출원지정국 : 대한민국

18

"분할된 LFSR을 이용한 저전력 결정패턴 BIST 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 양명훈, 김유빈
출원번호 : 10-2006-0070778, 출원일자 : 2006.07.27
출원지정국 : 대한민국

17

"다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2006-0068415, 출원일자 : 2006.07.21
출원지정국 : 대한민국

16

"유사랜덤 BIST 기반의 통합 스캔천이 감소회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 김유빈, 송동섭
출원번호 : 10-2006-0051665, 출원일자 : 2006.06.09
출원지정국 : 대한민국

15

"결정적 BIST에 있어서의 효율적인 리씨딩 장치"
발명자 : 강성호, 김유빈, 양명훈, 이용
출원번호 : 10-2005-0072315, 출원일자 : 2005.08.08
출원지정국 : 대한민국

14

"천이감시 윈도우를 이용한 LFSR 천이수 감소방법 및 그 장치"
발명자 : 강성호, 김유빈, 양명훈, 이용
출원번호 : 10-2005-0045125, 출원일자 : 2005.05.27
출원지정국 : 대한민국

13

"XOR트리를 이용한 테스트벡터 압축방법"
발명자 : 강성호, 이민주, 전성훈, 박현태, 이용, 임요섭
출원번호 : 10-2005-0010419, 출원일자 : 2005.02.04
출원지정국 : 대한민국

12

"내장형 자체테스트 패턴 생성시의 하드웨어 오버헤드 축소방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 송동섭
출원번호 : 10-2004-0104761, 출원일자 : 2004.12.13
출원지정국 : 대한민국