31 |
"디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법 및 회로"
|
30 |
"이중 포트 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
|
29 |
"자체 수리 기능을 포함하는 반도체 메모리 장치 및 그것의 자체 수리 방법"
|
28 |
"프로그램머블 메모리 자체 테스트 회로 자동 생성 컴파일러"
|
27 |
"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
|
26 |
"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
|
25 |
"IP강성호 주소의 검색 방법 및 장치"
|
24 |
"심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 장치"
|
23 |
"위상고정루프의 자체내장 테스트 장치와 이를 포함하는 위상고정루프, 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법 및 이를 수록한 저장매체"
|
22 |
"아날로그-디지털 변환기에 내장된 자체 테스트 방법 및 장치"
|
<<이전페이지 [11][12][13][14][15][16] |