41

"회로의 고장을 진단하는 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 임요섭
출원번호 : 10-2012-0115576, 출원일자 : 2012.10.17
출원지정국 : 대한민국

40

"메모리 수리 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2012-0067424, 출원일자 : 2012.06.22
출원지정국 : 대한민국

39

"BIST 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 박기현, 김일웅, 권용기
출원번호 : 10-2011-0139826, 출원일자 : 2011.12.22
출원지정국 : 대한민국

38

"테스트 데이터 인코더와 인코딩 방법, 인코딩된 테스트 데이터의 디코더와 디코딩 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2011-0078499, 출원일자 : 2011.08.08
출원지정국 : 대한민국

37

"반도체 메모리 수리 장치 및 수리 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2011-0048149, 출원일자 : 2011.05.20
출원지정국 : 대한민국

36

"테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치"
발명자 : 강성호, 이근수
출원번호 : 10-2011-0017817, 출원일자 : 2011.02.28
출원지정국 : 대한민국

35

"반도체 메모리 장치 테스트 방법 및 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 김일웅
출원번호 : 10-2011-0016950, 출원일자 : 2011.02.25
출원지정국 : 대한민국

34

"디지털-아날로그 변환기 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 장재원
출원번호 : 10-2010-0136846, 출원일자 : 2010.12.28
출원지정국 : 대한민국

33

"초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2010-0058086, 출원일자 : 2010.06.18
출원지정국 : 대한민국

32

"디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법 및 회로"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2009-0099721, 출원일자 : 2009.10.20
출원지정국 : 대한민국