61 |
"TSV를 위한 효과적인 테스트 결과 추출 기법"
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60 |
"SoC환경에서 파워스캔 리오더링 기법을 이용한 새로운 저전력 스캔 기법"
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59 |
"관통 실리콘 비아의 간섭 지연시간 측정 및 감소 기법"
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58 |
"3차원으로 적층된 디램의 데이터를 보장하는 리프레시 관리 방법"
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57 |
"저비용 ATE를 위한 적은 크기의 비트맵을 사용하는 RA"
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56 |
"작은 하드웨어를 이용한 최적에 가까운 수리율을 가진 BIRA 알고리즘"
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55 |
"아이 다이어그램 예측 장치와 방법 및 이를 이용하는 테스트 장치"
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54 |
"반도체 장치"
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53 |
"효율적인 TSV 수리 방법"
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52 |
"회로 장치 및 그를 테스트하는 방법"
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