69

"TSV 테스트 및 분석 회로 및 테스트 방법 "
발명자 : 강성호, 이영우
출원번호 : 10-2016-0032768 , 출원일자 : 2016.03.18
출원지정국 : 대한민국

68

"스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법"
발명자 : 강성호, 임현열
출원번호 : 10-2016-0016564, 출원일자 : 2016.02.12
출원지정국 : 대한민국

67

"3차원 집적회로 "
발명자 : 강성호, 강동호, 이인걸
출원번호 : 10-2016-0014745, 출원일자 : 2016.02.05
출원지정국 : 대한민국

66

"스캔 셀 파티션에 기반을 둔 X-FILLING 및 저전력 스캔 셀 재배열 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 서성열
출원번호 : 10-2016-0012440, 출원일자 : 2016.02.01
출원지정국 : 대한민국

64

"메모리 디바이스 및 상기 메모리 디바이스의 리페어 분석 방법 "
발명자 : 강성호, 김주영, 이우성, 조기원
출원번호 : 10-2015-0190011, 출원일자 : 2015.12.30
출원지정국 : 대한민국

63

"리페어 분석 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김주영, 이우성, 조기원
출원번호 : 10-2015-0187883, 출원일자 : 2015.12.28
출원지정국 : 대한민국

63

"리페어 분석 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김주영, 이우성, 조기원
출원번호 : 10-2015-0190044, 출원일자 : 2015.12.30
출원지정국 : 대한민국

62

"반도체 장치의 적층 전후 테스트 최적화를 지원하는 반도체 장치 및 그 테스트 액세스 구조 변경 방법, 그리고 3차원 반도체 칩"
발명자 : 강성호, 최인혁
출원번호 : 10-2015-0065311, 출원일자 : 2015.05.11
출원지정국 : 대한민국

61

"TSV를 위한 효과적인 테스트 결과 추출 기법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2015-0063206, 출원일자 : 2015.05.06
출원지정국 : 대한민국

60

"SoC환경에서 파워스캔 리오더링 기법을 이용한 새로운 저전력 스캔 기법"
발명자 : 강성호, 이용
출원번호 : 10-2015-0008532, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국