159

"다중 단계 로직 진단 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
출원번호 : 10-2024-0122704, 출원일자 : 2024.09.09
출원지정국 : 대한민국

158

"실리콘 관통 전극의 리페어 동작을 수행하는 반도체 집적 회로"
발명자 : 강성호, 장석준, 한동현
출원번호 : 10-2024-0077163, 출원일자 : 2024.06.13
출원지정국 : 대한민국

157

"인공 신경망을 활용한 메모리 고장 수리 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 정민호
출원번호 : 10-2024-0082348, 출원일자 : 2024.06.25
출원지정국 : 대한민국

156

"고속 메모리 테스트 장치에서의 보조 명령어 기반 알고리즘 패턴 생성 방법 및 그를 위한 장치"
발명자 : 강성호, 이수령
출원번호 : 10-2024-0068548, 출원일자 : 2024.05.27
출원지정국 : 대한민국

155

"수리 가능한 AI 가속기 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2024-0055840, 출원일자 : 2024.04.26
출원지정국 : 대한민국

154

"회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
출원번호 : 10-2024-0054057, 출원일자 : 2024.04.23
출원지정국 : 대한민국

153

"저지연 스위치를 활용한 실리콘 관통 전극의 수리 구조"
발명자 : 강성호, 장석준, 한동현
출원번호 : 10-2024-0052404, 출원일자 : 2024.04.18
출원지정국 : 대한민국

152

"CNN 기반 스캔 체인 진단을 수행하는 전자 장치 및 그 동작방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
출원번호 : 10-2024-0047192, 출원일자 : 2024.04.08
출원지정국 : 대한민국

151

"자동 테스트 장비와 그 작동 방법, 그래픽 처리 유닛, 및 GPU-기반 동적 리던던시 분석 시스템을 이용한 리던던시 분석 방법"
발명자 : 강성호, 유연우
출원번호 : 10-2024-0028970, 출원일자 : 2024.02.28
출원지정국 : 대한민국

150

"수리 가능한 적층형 집적회로 장치 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
출원번호 : 10-2024-0025108, 출원일자 : 2024.02.21
출원지정국 : 대한민국