151

"자동 테스트 장비와 그 작동 방법, 그래픽 처리 유닛, 및 GPU-기반 동적 리던던시 분석 시스템을 이용한 리던던시 분석 방법"
발명자 : 강성호, 유연우
출원번호 : 10-2024-0028970, 출원일자 : 2024.02.28
출원지정국 : 대한민국

150

"수리 가능한 적층형 집적회로 장치 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
출원번호 : 10-2024-0025108, 출원일자 : 2024.02.21
출원지정국 : 대한민국

149

"고속 메모리 테스트 장치 및 명령어 집합"
발명자 : 강성호, 이주용
출원번호 : 10-2024-0023382, 출원일자 : 2024.02.19
출원지정국 : 대한민국

148

"수리 가능한 AI 가속기 및 이의 고장 수리 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2024-0022308, 출원일자 : 2024.02.16
출원지정국 : 대한민국

147

"IEEE-1838 표준 구조를 활용한 저면적 실리콘 관통 전극 수리 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
출원번호 : 10-2024-0022068, 출원일자 : 2024.02.15
출원지정국 : 대한민국

146

"키 얽힘 다중 반전 로직 라킹 회로를 통한 구조 분석 공격 무력화"
발명자 : 강성호, 원두연
출원번호 : 10-2024-0014859, 출원일자 : 2024.01.31
출원지정국 : 대한민국

145

"반도체 테스트 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 이주용
출원번호 : 10-2024-0008820, 출원일자 : 2024.01.19
출원지정국 : 대한민국

144

"3차원 메모리에서의 실리콘 관통 전극 수리 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 한동현
출원번호 : 10-2023-0189105, 출원일자 : 2023.12.22
출원지정국 : 대한민국

143

"메모리 고장 정보 선행 분석장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2023-0123185, 출원일자 : 2023.09.15
출원지정국 : 대한민국

142

"기판 테스트 장치 및 기판 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2023-0105785, 출원일자 : 2023.08.11
출원지정국 : 대한민국