35

"반도체 메모리 장치 테스트 방법 및 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 김일웅
출원번호 : 10-2011-0016950, 출원일자 : 2011.02.25
출원지정국 : 대한민국

34

"디지털-아날로그 변환기 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 장재원
출원번호 : 10-2010-0136846, 출원일자 : 2010.12.28
출원지정국 : 대한민국

33

"초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2010-0058086, 출원일자 : 2010.06.18
출원지정국 : 대한민국

32

"디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법 및 회로"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2009-0099721, 출원일자 : 2009.10.20
출원지정국 : 대한민국

31

"디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법 및 회로"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2009-0091067, 출원일자 : 2009.09.25
출원지정국 : 대한민국

30

"이중 포트 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2009-0069399, 출원일자 : 2009.07.29
출원지정국 : 대한민국

29

"자체 수리 기능을 포함하는 반도체 메모리 장치 및 그것의 자체 수리 방법"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2009-0067917, 출원일자 : 2009.07.24
출원지정국 : 대한민국

28

"프로그램머블 메모리 자체 테스트 회로 자동 생성 컴파일러"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0079602, 출원일자 : 2008.08.13
출원지정국 : 대한민국

27

"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0023436, 출원일자 : 2008.03.13
출원지정국 : 대한민국

26

"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0014577, 출원일자 : 2008.02.18
출원지정국 : 대한민국