27

"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0023436, 출원일자 : 2008.03.13
출원지정국 : 대한민국

26

"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0014577, 출원일자 : 2008.02.18
출원지정국 : 대한민국

25

"IP강성호 주소의 검색 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2008-0014575, 출원일자 : 2008.02.18
출원지정국 : 대한민국

24

"심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2007-0078815, 출원일자 : 2007.08.07
출원지정국 : 대한민국

23

"위상고정루프의 자체내장 테스트 장치와 이를 포함하는 위상고정루프, 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법 및 이를 수록한 저장매체"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2007-0074935, 출원일자 : 2007.07.26
출원지정국 :

22

"아날로그-디지털 변환기에 내장된 자체 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2007-0055915, 출원일자 : 2007.06.08
출원지정국 : 대한민국

21

"모듈 단위 자가 검출 방식 기반의 캐리 선택 덧샘기의 에러 수정 방법 및 그 캐리 선택 덧샘기"
발명자 : 강성호
출원번호 : 10-2007-0013601, 출원일자 : 2007.02.09
출원지정국 : 대한민국

20

"이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법"
발명자 : 강성호, 박영규, 양명훈, 김용준, 이대열
출원번호 : 10-2007-0013455, 출원일자 : 2007.02.09
출원지정국 : 대한민국

19

"하드웨어 오버헤드를 줄이기 위한 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김기철, 김인철
출원번호 : 10-2006-0070774, 출원일자 : 2006.07.27
출원지정국 : 대한민국

18

"분할된 LFSR을 이용한 저전력 결정패턴 BIST 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 양명훈, 김유빈
출원번호 : 10-2006-0070778, 출원일자 : 2006.07.27
출원지정국 : 대한민국