47

"메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 검사 및 수리 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2014-0027238, 출원일자 : 2014.03.07
출원지정국 : 대한민국

46

"반도체 장치 및 이의 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2014-0019152, 출원일자 : 2014.02.19
출원지정국 : 대한민국

45

"3차원 매니코어 프로세서를 위한 전압성 형성 방법"
발명자 : 강성호, 홍혜정
출원번호 : 10-2014-0000571, 출원일자 : 2014.01.03
출원지정국 : 대한민국

44

"메모리 수리 방법 및 메모리 수리 장치"
발명자 : 강성호, 조기원
출원번호 : 10-2013-0108582, 출원일자 : 2013.09.10
출원지정국 : 대한민국

43

"멀티코어 장치, 테스트 장치 및 고장 진단 방법"
발명자 : 강성호, 한태우
출원번호 : 10-2013-0006036, 출원일자 : 2013.01.18
출원지정국 : 대한민국

42

"다중바이트 처리 프리필터를 사용한 심층 패킷 검사 가속화 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 홍혜정
출원번호 : 10-2013-0006022, 출원일자 : 2013.01.18
출원지정국 : 대한민국

41

"회로의 고장을 진단하는 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 임요섭
출원번호 : 10-2012-0115576, 출원일자 : 2012.10.17
출원지정국 : 대한민국

40

"메모리 수리 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2012-0067424, 출원일자 : 2012.06.22
출원지정국 : 대한민국

39

"BIST 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 박기현, 김일웅, 권용기
출원번호 : 10-2011-0139826, 출원일자 : 2011.12.22
출원지정국 : 대한민국

38

"테스트 데이터 인코더와 인코딩 방법, 인코딩된 테스트 데이터의 디코더와 디코딩 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2011-0078499, 출원일자 : 2011.08.08
출원지정국 : 대한민국