52

"회로 장치 및 그를 테스트하는 방법"
발명자 : 강성호, 서성열
출원번호 : 10-2014-0083853, 출원일자 : 2014.07.04
출원지정국 : 대한민국

51

"비휘발성 메모리 장치 및 그를 테스트하는 방법"
발명자 : 강성호, 차재원
출원번호 : 10-2014-0044342, 출원일자 : 2014.04.14
출원지정국 : 대한민국

50

"반도체 테스트 장치 및 반도체 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이용
출원번호 : 10-2014-0040908, 출원일자 : 2014.04.07
출원지정국 : 대한민국

49

"아날로그-디지털 변환기의 테스트 장치 및 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 손현욱
출원번호 : 10-2014-0029193, 출원일자 : 2014.03.12
출원지정국 : 대한민국

48

"반도체 회로 장치 및 그에 내장된 메모리들을 검사 및 수리하는 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2014-0027933, 출원일자 : 2014.03.10
출원지정국 : 대한민국

47

"메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 검사 및 수리 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
출원번호 : 10-2014-0027238, 출원일자 : 2014.03.07
출원지정국 : 대한민국

46

"반도체 장치 및 이의 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2014-0019152, 출원일자 : 2014.02.19
출원지정국 : 대한민국

45

"3차원 매니코어 프로세서를 위한 전압성 형성 방법"
발명자 : 강성호, 홍혜정
출원번호 : 10-2014-0000571, 출원일자 : 2014.01.03
출원지정국 : 대한민국

44

"메모리 수리 방법 및 메모리 수리 장치"
발명자 : 강성호, 조기원
출원번호 : 10-2013-0108582, 출원일자 : 2013.09.10
출원지정국 : 대한민국

43

"멀티코어 장치, 테스트 장치 및 고장 진단 방법"
발명자 : 강성호, 한태우
출원번호 : 10-2013-0006036, 출원일자 : 2013.01.18
출원지정국 : 대한민국