62

"반도체 장치의 적층 전후 테스트 최적화를 지원하는 반도체 장치 및 그 테스트 액세스 구조 변경 방법, 그리고 3차원 반도체 칩"
발명자 : 강성호, 최인혁
출원번호 : 10-2015-0065311, 출원일자 : 2015.05.11
출원지정국 : 대한민국

61

"TSV를 위한 효과적인 테스트 결과 추출 기법"
발명자 : 강성호, 박재석
출원번호 : 10-2015-0063206, 출원일자 : 2015.05.06
출원지정국 : 대한민국

60

"SoC환경에서 파워스캔 리오더링 기법을 이용한 새로운 저전력 스캔 기법"
발명자 : 강성호, 이용
출원번호 : 10-2015-0008532, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국

59

"관통 실리콘 비아의 간섭 지연시간 측정 및 감소 기법"
발명자 : 강성호, 장재원
출원번호 : 10-2015-0008531, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국

58

"3차원으로 적층된 디램의 데이터를 보장하는 리프레시 관리 방법"
발명자 : 강성호, 임재일
출원번호 : 10-2015-0008527, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국

57

"저비용 ATE를 위한 적은 크기의 비트맵을 사용하는 RA"
발명자 : 강성호, 조기원
출원번호 : 10-2015-0008526, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국

56

"작은 하드웨어를 이용한 최적에 가까운 수리율을 가진 BIRA 알고리즘"
발명자 : 강성호, 이우성
출원번호 : 10-2015-0008525, 출원일자 : 2015.01.19
출원지정국 : 대한민국

55

"아이 다이어그램 예측 장치와 방법 및 이를 이용하는 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 손현욱, 장재원
출원번호 : 10-2014-0193726, 출원일자 : 2014.12.30
출원지정국 : 대한민국

54

"반도체 장치"
발명자 : 강성호, 박기현, 우수해
출원번호 : 10-2014-0170641, 출원일자 : 2014.12.02
출원지정국 : 대한민국

53

"효율적인 TSV 수리 방법"
발명자 : 강성호, 김일웅
출원번호 : 10-2014-0089049, 출원일자 : 2014.07.15
출원지정국 : 대한민국