82

"3차원 반도체 장치의 테스트 회로 및 그의 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이인걸
출원번호 : 10-2017-0129195, 출원일자 : 2017.10.10
출원지정국 : 대한민국

81

"압축된 컨트롤 신호를 이용한 효과적인 X 마스킹 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 강소연
출원번호 : 10-2017-0053971, 출원일자 : 2017.04.26
출원지정국 : 대한민국

80

"스캔 체인의 고장을 진단하는 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김태현
출원번호 : 10-2017-0049592, 출원일자 : 2017.04.18
출원지정국 : 대한민국

79

"병렬 테스트를 수행하는 회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 임현찬
출원번호 : 10-2017-0042954, 출원일자 : 2017.04.03
출원지정국 : 대한민국

78

"반도체 적층 테스트를 위한 테스트 경로를 재구성할 수 있는 반도체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 최인혁
출원번호 : 10-2017-0021311, 출원일자 : 2017.02.17
출원지정국 : 대한민국

77

"반도체 테스트를 지원하는 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 서성열
출원번호 : 10-2017-001638, 출원일자 : 2017.02.07
출원지정국 : 대한민국

76

"온 칩 DRAM을 사용한 멀티코어 환경에서의 포스트 실리콘 디버그 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 오형교
출원번호 : 10-2017-0013806, 출원일자 : 2017.01.31
출원지정국 : 대한민국

75

"반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이영우
출원번호 : 10-2017-0010670, 출원일자 : 2017.01.23
출원지정국 : 대한민국

74

"집단 고장을 고려한 불균형 배치된 TSV의 수리 구조를 결정하는 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 장재원
출원번호 : 10-2017-0006908, 출원일자 : 2017.01.16
출원지정국 : 대한민국

73

"다양한 여분 셀들을 이용하여 메모리 뱅크들을 수리하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2016-0183267, 출원일자 : 2016.12.30
출원지정국 : 대한민국