125 |
"스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치 장치"
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124 |
"3D 메모리 및 TSV 예비 자원을 이용한 3D 메모리 라우팅 방법"
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123 |
"다중 동일한 코어를 위한 하이브리드 테스트 방법 및 장치"
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122 |
"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
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121 |
"스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치"
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120 |
"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
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119 |
"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
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118 |
"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
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117 |
"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
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116 |
"관통 전극의 리페어 방법, 이를 수행하는 리페어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
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