122

"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2021-0189267, 출원일자 : 2021.12.28
출원지정국 : 대한민국

121

"스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치"
발명자 : 강성호, 임현찬
출원번호 : 10-2021-0178936, 출원일자 : 2021.12.14
출원지정국 : 대한민국

120

"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
출원번호 : 10-2021-0167453, 출원일자 : 2021.11.29
출원지정국 : 대한민국

119

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
출원번호 : 10-2021-0146108, 출원일자 : 2021.10.28
출원지정국 : 대한민국

118

"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
출원번호 : 10-2021-0143402, 출원일자 : 2021.10.26
출원지정국 : 대한민국

117

"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
출원번호 : 10-2021-0143401, 출원일자 : 2021.10.26
출원지정국 : 대한민국

116

"관통 전극의 리페어 방법, 이를 수행하는 리페어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2021-0119552, 출원일자 : 2021.09.08
출원지정국 : 대한민국

115

"TSV 테스트 장치를 포함하는 반도체 장치 및 이의 동작 방법"
발명자 : 강성호, 이영광
출원번호 : 10-2021-0117936, 출원일자 : 2021.09.03
출원지정국 : 대한민국

114

"BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 포스트 실리콘 디버깅 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2021-0091570, 출원일자 : 2021.07.13
출원지정국 : 대한민국

113

"스캔 체인의 자가 테스트를 위한 삽입 노드 결정 방법 및 장치"
발명자 : 강성호. 김경빈
출원번호 : 10-2021-0067002, 출원일자 : 2021.05.25
출원지정국 : 대한민국