163

"고속 바운더리 스캔 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 장석준
출원번호 : 10-2024-0177172, 출원일자 : 2024.12.03
출원지정국 : 대한민국

162

"고대역폭 메모리 병렬 테스트 회로 및 고대역폭 메모리 병렬 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 김병수
출원번호 : 10-2024-0168994, 출원일자 : 2024.11.22
출원지정국 : 대한민국

161

"고속 메모리 테스트를 위한 퍼핀 알고리즘 패턴 생성 회로, 이를 포함하는 자동 테스트 장비, 및 테스트 시스템의 작동 방법"
발명자 : 강성호, 이주용
출원번호 : 10-2024-0150328, 출원일자 : 2024.10.30
출원지정국 : 대한민국

160

"스캔 셀들을 포함하는 스캔 체인을 포함하는 반도체 장치, 이의 작동 방법, 및 상기 스캔 셀들 중에서 고장난 스캔 셀의 위치를 찾을 수 있는 반도체 시스템의 작동 방법"
발명자 : 강성호, 이주용
출원번호 : 10-2024-0142641, 출원일자 : 2024.10.18
출원지정국 : 대한민국

159

"다중 단계 로직 진단 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
출원번호 : 10-2024-0122704, 출원일자 : 2024.09.09
출원지정국 : 대한민국

158

"실리콘 관통 전극의 리페어 동작을 수행하는 반도체 집적 회로"
발명자 : 강성호, 장석준, 한동현
출원번호 : 10-2024-0077163, 출원일자 : 2024.06.13
출원지정국 : 대한민국

157

"인공 신경망을 활용한 메모리 고장 수리 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 정민호
출원번호 : 10-2024-0082348, 출원일자 : 2024.06.25
출원지정국 : 대한민국

156

"고속 메모리 테스트 장치에서의 보조 명령어 기반 알고리즘 패턴 생성 방법 및 그를 위한 장치"
발명자 : 강성호, 이수령
출원번호 : 10-2024-0068548, 출원일자 : 2024.05.27
출원지정국 : 대한민국

155

"수리 가능한 AI 가속기 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
출원번호 : 10-2024-0055840, 출원일자 : 2024.04.26
출원지정국 : 대한민국

154

"회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
출원번호 : 10-2024-0054057, 출원일자 : 2024.04.23
출원지정국 : 대한민국