27

"디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법 및 회로"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-1129549, 등록일자 : 2012.03.16

26

"초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1074456, 등록일자 : 2011.10.11

25

"이중 포트 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-1060243, 등록일자 : 2011.08.23

24

"프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0951513, 등록일자 : 2010.03.30

23

"위상고정루프의 자체내장 테스트 장치와 이를 포함하는 위상고정루프, 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법 및 이를 수록한 저장매체"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0940920, 등록일자 : 2010.01.29

22

"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0928627, 등록일자 : 2009.11.18

21

"이중 포트 메모리를 위한 테스트 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0928323, 등록일자 : 2009.11.17

20

"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0920105, 등록일자 : 2009.09.25

19

"IP 주소의 검색 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0920107, 등록일자 : 2009.09.25

18

"심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0901522, 등록일자 : 2009.06.01


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