22

"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0928627, 등록일자 : 2009.11.18

21

"이중 포트 메모리를 위한 테스트 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0928323, 등록일자 : 2009.11.17

20

"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0920105, 등록일자 : 2009.09.25

19

"IP 주소의 검색 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0920107, 등록일자 : 2009.09.25

18

"심볼릭 시뮬레이션을 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0901522, 등록일자 : 2009.06.01

17

"이중 포트 메모리를 위한 테스트 및 진단 방법"
발명자 : 강성호, 김지혜, 송동섭, 배상민
등록번호 : 10-0888612, 등록일자 : 2009.03.06

16

"하드웨어 오버헤드를 줄이기 위한 아날로그 디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김기철, 김인철
등록번호 : 10-0834553, 등록일자 : 2008.0527

15

"분할된 LFSR을 이용한 저전력 결정패턴 BIST 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 양명훈, 김유빈
등록번호 : 10-0768549-0000, 등록일자 : 2007.10.12

14

"결정적 BIST에 있어서의 효율적인 리씨딩 장치"
발명자 : 강성호, 양명훈, 이용, 김유빈
등록번호 : 10-0722524-0000, 등록일자 : 2007.05.21

13

"다중고착 고장 진단을 위한 매칭 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 특허 제 0713206호, 등록일자 : 2007.04.24


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