32

"메모리 수리 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1373668, 등록일자 : 2014.03.06

31

"반도체 메모리 수리 장치 및 수리 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1269557, 등록일자 : 2013.05.24

30

"반도체 메모리 장치 테스트 방법 및 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 김일웅
등록번호 : 10-1232195, 등록일자 : 2013.02.05

29

"테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치"
발명자 : 강성호, 이근수
등록번호 : 10-1221868, 등록일자 : 2013.01.18

28

"테스트 데이터 인코더와 인코딩 방법, 인코딩된 테스트 데이터의 디코더와 디코딩 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
등록번호 : 10-1199300, 등록일자 : 2012.11.02

27

"디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법 및 회로"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-1129549, 등록일자 : 2012.03.16

26

"초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1074456, 등록일자 : 2011.10.11

25

"이중 포트 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-1060243, 등록일자 : 2011.08.23

24

"프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0951513, 등록일자 : 2010.03.30

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"위상고정루프의 자체내장 테스트 장치와 이를 포함하는 위상고정루프, 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법 및 이를 수록한 저장매체"
발명자 : 강성호
등록번호 : 10-0940920, 등록일자 : 2010.01.29


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