90

"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
발명자 : 강성호, 김호경
등록번호 : 10-2400631, 등록일자 : 2022.05.17

89

"수리 가능 반도체 메모리 선별 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2388906, 등록일자 : 2022.04.18

88

"스캔 체인 형성 방법 및 스캔 체인 형성 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2382520, 등록일자 : 2022.03.30

87

"필터를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 그를 위한 장치"
발명자 : 강성호, 임현열
등록번호 : 10-2279047, 등록일자 : 2021.07.13

86

"스캔 체인 내 다중 고장을 진단하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2273138, 등록일자 : 2021.06.29

85

"침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로"
발명자 : 강성호,이영우
등록번호 : 10-2245773, 등록일자 : 2021.04.22

84

"메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2229416, 등록일자 : 2021.03.21

83

"메모리 수리 장치 및 그 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2160772, 등록일자 : 2020.09.22

82

"동적 고장 재배치에 따른 메모리 수리 솔루션 탐색 장치 및 방법"
발명자 : 강성호,이하영
등록번호 : 10-2135470, 등록일자 : 2020.07.13

81

"드롭아웃이 적용된 다층 퍼셉트론 구조에서 연산코어의 오류 검출 방법 및 장치"
발명자 : 강성호,이동수
등록번호 : 10-2134339, 등록일자 : 2020.07.09