63

"3차원 반도체 장치의 테스트 회로 및 그의 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이인걸
등록번호 : 10-1884593, 등록일자 : 2018.07.26

62

"스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법"
발명자 : 강성호, 임현열
등록번호 : 10-1854974, 등록일자 : 2018.04.27

61

"병렬 테스트를 수행하는 회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 임현찬
등록번호 : 10-1837898, 등록일자 : 2018.03.06

60

"스캔 체인의 고장을 진단하는 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김태현
등록번호 : 10-1837899, 등록일자 : 2018.03.06

59

"다양한 여분 셀들을 이용하여 메모리 뱅크들을 수리하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-1836748, 등록일자 : 2018.03.02

58

"압축된 컨트롤 신호를 이용한 효과적인 X 마스킹 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 강소연
등록번호 : 10-1815807, 등록일자 : 2017.12.29

57

"반도체 테스트를 지원하는 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 서성열
등록번호 : 10-1808480, 등록일자 : 2017.12.06

56

"반도체 적층 테스트를 위한 테스트 경로를 재구성할 수 있는 반도체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 최인혁
등록번호 : 10-1799724, 등록일자 : 2017.11.14

55

"반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이영우
등록번호 : 10-1785889, 등록일자 : 2017.09.29

54

"TSV테스트 및 분석회로 및 테스트 방법"
발명자 : 강성호,이영우
등록번호 : 10-1772808, 등록일자 : 2017.08.23


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