110

"반도체 테스트 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 이주용
등록번호 : 10-2795032, 등록일자 : 2025.04.08

109

"3차원 메모리에서의 실리콘 관통 전극 수리 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2792461, 등록일자 : 2025.04.02

108

"고장 진단 가능한 스캔 장치 및 스캔 체인 고장 진단 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2766809, 등록일자 : 2025.02.07

107

"Pair-Grouping 스캔 체인 구조를 이용한 스캔 셀 다중 고장 진단 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 10-2753782, 등록일자 : 2025.01.08

106

"회로의 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
등록번호 : 10-2731691, 등록일자 : 2024.11.13

105

"스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2731688, 등록일자 : 2024.11.13

104

"다중 동일한 코어를 위한 하이브리드 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 2024.09.24, 등록일자 : 10-2711453

103

"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2680120, 등록일자 : 2024.06.26

102

"스캔 체인의 다중 고장 진단장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 강성호, 김성훈, 등록일자 : 2024.05.23

101

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
등록번호 : 10-2664020, 등록일자 : 2024.05.02