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"테스트 데이터를 압축하는 방법, 테스트 데이터 압축방법이 구현된 프로그램이 저장된 컴퓨터 판독가능한 저장매체 및 압축된 테스트 데이터 복원장치"
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28 |
"테스트 데이터 인코더와 인코딩 방법, 인코딩된 테스트 데이터의 디코더와 디코딩 방법"
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27 |
"디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법 및 회로"
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26 |
"초기 종결 조건들에 따른 메모리 테스트 방법 및 시스템"
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25 |
"이중 포트 메모리를 위한 프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
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24 |
"프로그래머블 메모리 자체 테스트 회로 생성기 및 그 생성 방법"
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23 |
"위상고정루프의 자체내장 테스트 장치와 이를 포함하는 위상고정루프, 위상고정루프의 자체내장 테스트 방법 및 이를 수록한 저장매체"
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22 |
"확률 모델 기반의 저전력 BIST 장치 및 방법"
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21 |
"이중 포트 메모리를 위한 테스트 방법"
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"크로스토크 테스트 방법 및 장치"
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