45 |
"저비용 ATE를 위한 적은 크기의 비트맵을 사용하는 RA"
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44 |
"작은 하드웨어를 이용한 최적에 가까운 수리율을 가진 BIRA 알고리즘"
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43 |
"고신뢰성 TSV 세트 구조"
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42 |
"고속 파이프라인 아날로그-디지털 변환기의 히스토그램 기반 테스트 방식"
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41 |
"SoC환경에서 파워스캔 리오더링 기법을 이용한 새로운 저전력 스캔 기법"
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40 |
"관통 실리콘 비아의 간섭 지연시간 측정 및 감소 기법"
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39 |
"3차원 매니코어 프로세서를 위한 발열을 고려한 전압섬 형성"
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38 |
"트라이-스테이트 입력 검출 회로를 활용한 테스트 압축 방법"
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37 |
"메모리 구조에 따른 우선 선택 전략을 사용하는 RA 알고리즘"
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36 |
"효율적인 TSV 수리 방법"
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