50

"반도체 테스트 장치 및 반도체 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이용
등록번호 : 10-1619178, 등록일자 : 2016.04.29

48

"메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 검사 및 수리 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1555037, 등록일자 : 2015.09.16

47

"반도체 회로 장치 및 그에 내장된 메모리들을 검사 및 수리하는 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1553347, 등록일자 : 2015.09.09

46

"두 지점 간 온도 오차 계산 방법, 그에 따라 계산된 온도 오차를 반영하여 리프레쉬하는 동적 랜덤 액세스 메모리 및 3차원 프로세서"
발명자 : 강성호, 임재일
등록번호 : 10-1553356, 등록일자 : 2015.09.09

45

"저비용 ATE를 위한 적은 크기의 비트맵을 사용하는 RA"
발명자 : 강성호, 조기원
등록번호 : 10-1545714, 등록일자 : 2015.08.12

44

"작은 하드웨어를 이용한 최적에 가까운 수리율을 가진 BIRA 알고리즘"
발명자 : 강성호, 이우성
등록번호 : 10-1545716, 등록일자 : 2015.08.12

43

"고신뢰성 TSV 세트 구조"
발명자 : 강성호, 박재석
등록번호 : 10-1543702, 등록일자 : 2015.08.05

42

"고속 파이프라인 아날로그-디지털 변환기의 히스토그램 기반 테스트 방식"
발명자 : 강성호, 손현욱
등록번호 : 10-1542190, 등록일자 : 2015.07.30

41

"SoC환경에서 파워스캔 리오더링 기법을 이용한 새로운 저전력 스캔 기법"
발명자 : 강성호, 이용
등록번호 : 10-1539712, 등록일자 : 2015.07.21

40

"관통 실리콘 비아의 간섭 지연시간 측정 및 감소 기법"
발명자 : 강성호, 장재원
등록번호 : 10-1539715, 등록일자 : 2015.07.21