56

"반도체 적층 테스트를 위한 테스트 경로를 재구성할 수 있는 반도체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 최인혁
등록번호 : 10-1799724, 등록일자 : 2017.11.14

55

"반도체 테스트 프로그램 디버깅과 관련된 테스트 항목들의 우선순위를 결정하기 위한 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이영우
등록번호 : 10-1785889, 등록일자 : 2017.09.29

54

"TSV테스트 및 분석회로 및 테스트 방법"
발명자 : 강성호,이영우
등록번호 : 10-1772808, 등록일자 : 2017.08.23

53

"3차원 집적회로"
발명자 : 강성호, 강동호, 이인걸
등록번호 : 10-1737264, 등록일자 : 2017.05.11

52

"스캔 셀 파티션에 기반을 둔 X-FILLING 및 저전력 스캔 셀 재배열 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 서성열
등록번호 : 10-1681862, 등록일자 : 2016.11.25

51

"테스트 데이터 추출 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 박재석
등록번호 : 10-1633678, 등록일자 : 2016.06.21

50

"반도체 테스트 장치 및 반도체 테스트 방법"
발명자 : 강성호, 이용
등록번호 : 10-1619178, 등록일자 : 2016.04.29

48

"메모리 수리 장치 및 방법, 그리고 그를 이용한 메모리 검사 및 수리 시스템"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1555037, 등록일자 : 2015.09.16

47

"반도체 회로 장치 및 그에 내장된 메모리들을 검사 및 수리하는 방법"
발명자 : 강성호, 강우헌
등록번호 : 10-1553347, 등록일자 : 2015.09.09

46

"두 지점 간 온도 오차 계산 방법, 그에 따라 계산된 온도 오차를 반영하여 리프레쉬하는 동적 랜덤 액세스 메모리 및 3차원 프로세서"
발명자 : 강성호, 임재일
등록번호 : 10-1553356, 등록일자 : 2015.09.09