66 |
"리페어 분석 방법 및 장치"
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65 |
"온 칩 DRAM을 사용한 멀티코어 환경에서의 포스트 실리콘 디버그 장치 및 방법"
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64 |
"듀얼 모듈러 리던던시 및 오류 예측을 이용한 고성능 컴퓨팅 장치 및 그 방법"
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63 |
"3차원 반도체 장치의 테스트 회로 및 그의 테스트 방법"
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62 |
"스캔 바이패스를 이용한 스캔 체인 분할 장치 및 그 방법"
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61 |
"병렬 테스트를 수행하는 회로 자체 테스트 장치 및 그 동작 방법"
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60 |
"스캔 체인의 고장을 진단하는 장치 및 방법"
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59 |
"다양한 여분 셀들을 이용하여 메모리 뱅크들을 수리하기 위한 장치 및 방법"
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58 |
"압축된 컨트롤 신호를 이용한 효과적인 X 마스킹 장치 및 방법"
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57 |
"반도체 테스트를 지원하는 보스트 모듈 장치 및 그 동작 방법"
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