86 |
"스캔 체인 내 다중 고장을 진단하기 위한 장치 및 방법"
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85 |
"침투 공격에 대해 검출 및 보호가 가능한 온칩 보안 회로"
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84 |
"메모리의 테스트 데이터 압축 장치 및 방법"
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83 |
"메모리 수리 장치 및 그 방법"
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82 |
"동적 고장 재배치에 따른 메모리 수리 솔루션 탐색 장치 및 방법"
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81 |
"드롭아웃이 적용된 다층 퍼셉트론 구조에서 연산코어의 오류 검출 방법 및 장치"
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80 |
"반도체 장치"
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79 |
"베이스 다이 스페어 셀을 이용한 적층형 메모리 장치 및 그 수리 방법"
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79 |
"반도체 장치"
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78 |
"오류 정정 코드를 이용한 적층형 메모리 장치 및 그 수리 방법"
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