96 |
"BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 포스트 실리콘 디버깅 방법 및 장치"
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95 |
"테스트 포인트 삽입을 통하여 향상된 검출율을 가지는 고장 검출 방법, 고장 검출 장치 및 가중치 인가 회로"
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94 |
"칩의 보안 회로"
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93 |
"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
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92 |
"X 필링 방법 및 장치"
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91 |
"스캔 셀 재배치 방법 및 스캔 셀 재배치 장치"
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90 |
"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
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89 |
"수리 가능 반도체 메모리 선별 장치 및 방법"
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88 |
"스캔 체인 형성 방법 및 스캔 체인 형성 장치"
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87 |
"필터를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법 및 그를 위한 장치"
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