100

"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
등록번호 : 10-2630258, 등록일자 : 2024.01.23

99

"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2620784, 등록일자 : 2023.12.28

98

"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2683916, 등록일자 : 2023.09.22

97

"스캔 체인의 자가 테스트를 위한 삽입 노드 결정 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2513278, 등록일자 : 2023.03.20

96

"BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 포스트 실리콘 디버깅 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2483739, 등록일자 : 2022.12.28

95

"테스트 포인트 삽입을 통하여 향상된 검출율을 가지는 고장 검출 방법, 고장 검출 장치 및 가중치 인가 회로"
발명자 : 강성호, 박종호
등록번호 : 10-2450484, 등록일자 : 2022.09.28

94

"칩의 보안 회로"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2413790, 등록일자 : 2022.06.30

93

"리던던시 분석 방법 및 리던던시 분석 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
등록번호 : 10-2416994, 등록일자 : 2022.06.30

92

"X 필링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
등록번호 : 10-2412817, 등록일자 : 2022.06.21

91

"스캔 셀 재배치 방법 및 스캔 셀 재배치 장치"
발명자 : 강성호, 임현열
등록번호 : 10-2412816, 등록일자 : 2022.06.21