114

"비대칭 실리콘 관통 전극 연결 구조를 포함하는 3차원 집적 회로"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2823819, 등록일자 : 2025.06.18

113

"메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2814011, 등록일자 : 2025.05.23

112

"반도체 테스트 장치 제조 방법"
발명자 : 강성호, 박성환
등록번호 : 10-2810638, 등록일자 : 2025.05.16

111

"스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치"
발명자 : 강성호, 임현찬
등록번호 : 10-2798810, 등록일자 : 2025.04.16

110

"반도체 테스트 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 이주용
등록번호 : 10-2795032, 등록일자 : 2025.04.08

109

"3차원 메모리에서의 실리콘 관통 전극 수리 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2792461, 등록일자 : 2025.04.02

108

"고장 진단 가능한 스캔 장치 및 스캔 체인 고장 진단 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2766809, 등록일자 : 2025.02.07

107

"Pair-Grouping 스캔 체인 구조를 이용한 스캔 셀 다중 고장 진단 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 10-2753782, 등록일자 : 2025.01.08

106

"회로의 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
등록번호 : 10-2731691, 등록일자 : 2024.11.13

105

"스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2731688, 등록일자 : 2024.11.13