106

"회로의 고장 진단 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김태현
등록번호 : 10-2731691, 등록일자 : 2024.11.13

105

"스캔 셀 배치 방법 및 스캔 셀 배치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2731688, 등록일자 : 2024.11.13

104

"다중 동일한 코어를 위한 하이브리드 테스트 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 2024.09.24, 등록일자 : 10-2711453

103

"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2680120, 등록일자 : 2024.06.26

102

"스캔 체인의 다중 고장 진단장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 강성호, 김성훈, 등록일자 : 2024.05.23

101

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
등록번호 : 10-2664020, 등록일자 : 2024.05.02

100

"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
등록번호 : 10-2630258, 등록일자 : 2024.01.23

99

"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2620784, 등록일자 : 2023.12.28

98

"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2683916, 등록일자 : 2023.09.22

97

"스캔 체인의 자가 테스트를 위한 삽입 노드 결정 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2513278, 등록일자 : 2023.03.20