122

"관통 전극의 리페어 방법, 이를 수행하는 리페어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2872594, 등록일자 : 2025.10.14

121

"비선형 메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2865048, 등록일자 : 2025.09.23

120

"메모리 고장 정보 선행 분석 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2859295, 등록일자 : 2025.09.09

119

"수리 가능한 적층형 집적회로 장치 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 10-2859255, 등록일자 : 2025.09.09

118

"수리 가능한 AI 가속기 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2842770, 등록일자 : 2025.07.31

117

"기계 학습에 기반한 스캔 체인 진단방법 및 진단장치"
발명자 : 강성호, 윤효준
등록번호 : 10-2837556, 등록일자 : 2025.07.18

116

"자동 테스트 장비와 그 작동 방법, 그래픽 처리 유닛, 및 GPU-기반 동적 리던던시 분석 시스템을 이용한 리던던시 분석 방법"
발명자 : 강성호, 유연우
등록번호 : 10-2835236, 등록일자 : 2025.07.14

115

"고장 검출 가능한 신경망 가속기 및 신경망 가속기 고장 검출 방법"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2834894, 등록일자 : 2025.07.11

114

"비대칭 실리콘 관통 전극 연결 구조를 포함하는 3차원 집적 회로"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2823819, 등록일자 : 2025.06.18

113

"메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2814011, 등록일자 : 2025.05.23