118

"수리 가능한 AI 가속기 및 이의 수리 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2842770, 등록일자 : 2025.07.31

117

"기계 학습에 기반한 스캔 체인 진단방법 및 진단장치"
발명자 : 강성호, 윤효준
등록번호 : 10-2837556, 등록일자 : 2025.07.18

116

"자동 테스트 장비와 그 작동 방법, 그래픽 처리 유닛, 및 GPU-기반 동적 리던던시 분석 시스템을 이용한 리던던시 분석 방법"
발명자 : 강성호, 유연우
등록번호 : 10-2835236, 등록일자 : 2025.07.14

115

"고장 검출 가능한 신경망 가속기 및 신경망 가속기 고장 검출 방법"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2834894, 등록일자 : 2025.07.11

114

"비대칭 실리콘 관통 전극 연결 구조를 포함하는 3차원 집적 회로"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2823819, 등록일자 : 2025.06.18

113

"메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2814011, 등록일자 : 2025.05.23

112

"반도체 테스트 장치 제조 방법"
발명자 : 강성호, 박성환
등록번호 : 10-2810638, 등록일자 : 2025.05.16

111

"스캔 셀의 고장 검출 방법 및 스캔 셀의 고장 검출 장치"
발명자 : 강성호, 임현찬
등록번호 : 10-2798810, 등록일자 : 2025.04.16

110

"반도체 테스트 방법 및 이를 이용한 장치"
발명자 : 강성호, 이주용
등록번호 : 10-2795032, 등록일자 : 2025.04.08

109

"3차원 메모리에서의 실리콘 관통 전극 수리 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2792461, 등록일자 : 2025.04.02