129

"CNN 기반 스캔 체인 진단을 수행하는 전자 장치 및 그 동작방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
등록번호 : 10-2930530, 등록일자 : 2026.02.20

128

"AI 기반 수리 가능 반도체 메모리 선별 방법, 이를 수행하는 장치 및 컴퓨터 프로그램"
발명자 : 강성호, 신승호
등록번호 : 10-2927215, 등록일자 : 2026.02.09

127

"스캔 체인 보안을 위한 회로 및 그 구동 방법"
발명자 : 강성호, 문영기
등록번호 : 10-2926042, 등록일자 : 2026.02.06

126

"스캔 셀들을 포함하는 스캔 체인을 포함하는 반도체 장치, 이의 작동 방법, 및 상기 스캔 셀들 중에서 고장난 스캔 셀의 위치를 찾을 수 있는 반도체 시스템의 작동 방법"
발명자 : 강성호, 이주용
등록번호 : 10-2923642, 등록일자 : 2026.02.02

125

"고속 메모리 테스트를 위한 퍼핀 알고리즘 패턴 생성 회로, 이를 포함하는 자동 테스트 장비, 및 테스트 시스템의 작동 방법"
발명자 : 강성호, 이주용
등록번호 : 10-2923631, 등록일자 : 2026.02.02

124

"잠재적 경우 수집 과정을 이용한 빠르고 최적의 빌트-인 리던던시 분석 방법과 상기 방법을 수행할 수 있는 장치들"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2902366, 등록일자 : 2025.12.16

123

"메모리 고장 데이터 저장 방법, 이를 수행하는 장치 및 컴퓨터 프로그램"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2885138, 등록일자 : 2025.11.07

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"관통 전극의 리페어 방법, 이를 수행하는 리페어 장치 및 이를 포함하는 반도체 장치"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2872594, 등록일자 : 2025.10.14

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"비선형 메모리 고장 분석 방법 및 메모리 테스트 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2865048, 등록일자 : 2025.09.23

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"메모리 고장 정보 선행 분석 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2859295, 등록일자 : 2025.09.09