136

"내장 자가 테스트 장치를 포함한 반도체 장치 및 이의 동작 방법"
발명자 : 강성호, 이하영, 이수령
등록번호 : 10-2967796, 등록일자 : 2026.05.18

135

"공유 예비 셀 기반의 메모리 수리 분석 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 손누리, 이상준
등록번호 : 10-2964114, 등록일자 : 2026.05.08

134

"피벗 기반 균등 부하 메모리 수리 시스템 및 방법"
발명자 : 강성호, 정유진, 정재영
등록번호 : 10-2964113, 등록일자 : 2026.05.08

133

"다중 단계 로직 진단 장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
등록번호 : 10-2954919, 등록일자 : 2026.04.15

132

"3D 메모리 및 TSV 예비 자원을 이용한 3D 메모리 라우팅 방법"
발명자 : 강성호, 한동현
등록번호 : 10-2949515, 등록일자 : 2026.04.02

131

"리던던시 분석 장치 및 그 동작 방법"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2939320, 등록일자 : 2026.03.10

130

"스캔 체인 보안 회로 및 그 구동 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2934460, 등록일자 : 2026.02.27

129

"CNN 기반 스캔 체인 진단을 수행하는 전자 장치 및 그 동작방법"
발명자 : 강성호, 윤효준
등록번호 : 10-2930530, 등록일자 : 2026.02.20

128

"AI 기반 수리 가능 반도체 메모리 선별 방법, 이를 수행하는 장치 및 컴퓨터 프로그램"
발명자 : 강성호, 신승호
등록번호 : 10-2927215, 등록일자 : 2026.02.09

127

"스캔 체인 보안을 위한 회로 및 그 구동 방법"
발명자 : 강성호, 문영기
등록번호 : 10-2926042, 등록일자 : 2026.02.06