103

"컨트롤 포인트의 구동 제어 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2680120, 등록일자 : 2024.06.26

102

"스캔 체인의 다중 고장 진단장치 및 방법"
발명자 : 강성호, 김성훈
등록번호 : 강성호, 김성훈, 등록일자 : 2024.05.23

101

"분할 스케줄링을 이용한 테스트 시간 감소 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이인환
등록번호 : 10-2664020, 등록일자 : 2024.05.02

100

"로직 비스트 캡쳐 전력 감소 회로 및 방법"
발명자 : 강성호, 박종호
등록번호 : 10-2630258, 등록일자 : 2024.01.23

99

"보안 스캔 체인 회로 및 스캔 체인 회로 보안 방법"
발명자 : 강성호, 장석준
등록번호 : 10-2620784, 등록일자 : 2023.12.28

98

"저전력 테스트를 위한 스캔 상관관계 기반 스캔 클러스터 리오더링 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이상준
등록번호 : 10-2683916, 등록일자 : 2023.09.22

97

"스캔 체인의 자가 테스트를 위한 삽입 노드 결정 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 김경빈
등록번호 : 10-2513278, 등록일자 : 2023.03.20

96

"BIRA CAM 구조를 재활용한 DRAM 기반 포스트 실리콘 디버깅 방법 및 장치"
발명자 : 강성호, 이하영
등록번호 : 10-2483739, 등록일자 : 2022.12.28

95

"테스트 포인트 삽입을 통하여 향상된 검출율을 가지는 고장 검출 방법, 고장 검출 장치 및 가중치 인가 회로"
발명자 : 강성호, 박종호
등록번호 : 10-2450484, 등록일자 : 2022.09.28

94

"칩의 보안 회로"
발명자 : 강성호, 이영광
등록번호 : 10-2413790, 등록일자 : 2022.06.30