183

"A New Result Extraction Scheme for efficient TSV Test"
박재석, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

182

"3D-IC 환경에서 XOR 네트워크를 활용한 효과적인 저전력 스캔 테스트 방법"
이용, 서성열, 임현열, 강우헌, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

181

"A Test Access Mechanism for Parallel Test of On-Chip Embedded Instruments"
최인혁, 한태우, 오형교, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

180

"병렬비교 고속 I/O 테스트 기법 개발"
장재원, 손현욱, 김희태, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

179

"A parallel Test Access Strategy for Multiple Identical Cores in Network-on-Chip"
한태우, 최인혁, 오형교, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

178

"스테이지 고장검출을 통한 파이프라인 ADC 테스트 기법"
손현욱, 장재원, 김희태, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

177

"온도 예측을 통한 3차원 구조 DRAM의 refresh 전력관리 기법"
임재일, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

176

"A spare Pivot Re-setting BIRA Algorithm with Optimized Hardware Overhead"
조기원, 이우성, 강성호
제15회 한국 테스트 학술대회
2014년 6월

175

"스트림 프리페치에서의 프리페치 정확도를 높이기 위한 프리페치 매개변수 조절"
우수해, 박기현, 강성호
2014년도 SOC학술대회
2014년 5월

174

"3D IC를 위한 저전력 테스트 패턴 재배열"
임현열, 강우헌, 이용, 서성열, 강성호
2014년도 SOC학술대회
2014년 5월


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