237

"Tri-State 검출 회로를 이용한 TSV 기반 차세대 반도체 테스트 구조"
이영우, 서성열, 조기원, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

236

"예비 자원 간 신호 전달을 통한 TSV 수리 기법"
정민호, 이인걸, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

235

"ECC를 사용하는 메모리의 수율 향상을 위한 퓨즈 구조"
김동현, 이하영, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

234

"GPU Fault Map을 활용한 고장 허용 범위 증가를 위한 스케줄링 방법"
이동수, 임현열, 김태현, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

233

"Frequency Controlled Kernel Replication Algorithm for GPGPU Reliability"
김태현, 임현열, 이동수, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

232

"캡쳐 파워 감소를 위한 다중 X-filling 방법"
김희태, 오형교, 임재일, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

231

"Redundant TSV Placement for Reliable Improvements of 3D-IC Logic"
이인걸, 정민호, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

230

"Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법"
서성열, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

229

"라우팅 길이의 감소를 위한 스캔 셀 방향 재배열 방법"
김정환, 강소연, 임현찬,강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

228

"효율적인 X-마스킹 컨트롤 데이터 압축 방법"
강소연, 김정환, 임현찬, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월