222 |
"A New Hardware Efficient Built-In Redundancy Analysis"
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221 |
"Reducing the Test Time for Bridge Faults by Critical Resistance Analysis"
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220 |
"그룹 간 예비 자원 공유를 통한 TSV의 수리 기법"
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219 |
"이중캡쳐를 이용한 스캔 체인 고장 진단 방법"
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218 |
"Hardware Efficient Redundant TSV Architecture for Clustered Faults in 3-D IC"
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217 |
"집단 고장을 고려한 불균형 배치된 TSV의 수리 기법 연구"
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216 |
"An efficient post-bond TSV test scheme"
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215 |
"테스트 병렬성 확대를 위한 2-stage 하이브리드 셀프테스트 구조"
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214 |
"NTV 환경에서의 합선 고장 검출 향상을 위한 테스트 패턴 생성 방법"
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213 |
"고장 분류 기반 early termination 방법"
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