232

"캡쳐 파워 감소를 위한 다중 X-filling 방법"
김희태, 오형교, 임재일, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

231

"Redundant TSV Placement for Reliable Improvements of 3D-IC Logic"
이인걸, 정민호, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

230

"Instruction-based Built Off Self-Test (BOST)를 이용한 차세대 메모리 테스트 병렬성 향상 및 핀 감소 기법"
서성열, 조기원, 이영우, 최인혁, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

229

"라우팅 길이의 감소를 위한 스캔 셀 방향 재배열 방법"
김정환, 강소연, 임현찬,강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

228

"효율적인 X-마스킹 컨트롤 데이터 압축 방법"
강소연, 김정환, 임현찬, 강성호
제18회 한국 테스트 학술대회
2017년 6월

227

"고장 그룹화 및 고장 그룹 분류 기반 메모리 수리 방법론"
이하영, 김주영, 김동현, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

226

"Cube-based TSV Redundancy Architecture for yield improvement of 3D-ICs "
정민호, 이인걸, 장재원, 박재석, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

225

"Instruction-based Built Off Self-Test Methodology for Memory Test"
서성열, 조기원, 이영우, 강성호
제24회 한국반도체학술대회
2017년 2월

224

"Modeling and Analysis of TSV-to-TSV Resistive Bridge Defect"
이영우, 정민호, 박기현, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월

223

"다중 메모리 블록 환경에서의 2D BIRA 하드웨어 구조"
김주영, 조기원, 이하영, 강성호
제17회 한국 테스트 학술대회
2016년 6월