203

"테스트 시간 절감을 위해 2 단계 테스트 패턴을 사용한 고속 스캔 시프트 방법"
이주환, 이진형, 유홍범, 김요정, 이용, 서성열, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

202

"작은 하드웨어를 이용한 다양한 스페어 구조를 위한 스페어 병렬 분석기"
이우성, 조기원, 김주영, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

201

"패턴 호환성을 이용한 테스트 데이터 압축"
김태현, 임현열, 강우헌, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

200

"3D-IC를 위한 TSV 제약조건에서의 모듈 기반 스캔 스티칭"
임현찬, 이용, 서성열, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

199

"다중 메모리 블럭 환경에서의 동작을 위한 2D BIRA CAM 구조"
조기원, 이우성 김주영, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

198

"스캔 바이패스 아키텍쳐를 이용한 효율적인 스캔체인 분할방법"
임현열, 강우헌, 김태현, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

197

"3차원 반도체의 소프트 오류 검출을 위한 BIST 구조"
이인걸, 박재석, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

196

"하드웨어 디버그 시간 단축을 위한 선택적 데이터 압축 방법"
오형교, 최인혁, 정원, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

195

"다양한 예비셀 구조를 가진 메모리의 must-repair 분석 방법"
김주영, 조기원, 이우성, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월

194

"3차원 구조 DRAM의 refresh 전력관리를 위한 온도 분포 분석 기법"
임재일, 강성호
제16회 한국 테스트 학술대회
2015년 9월


[1][2][3][4][5][6][7][8][9][10] 다음 페이지>>